显微观测类
200 kV透射电子显微镜
发布时间：2019-09-29
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200 kV透射电子显微镜 |  |
品牌 | 日本JEOL |
型号 | JEM-F200 |
负责人 | 曹艳 |
联系方式 | 020-22237330，crystinacao@scut.edu.cn |
安放地点 | 北区科技园2号楼106-107室 |
主要配置 | 1. HR高分辨极靴，Gatan OneView底装式相机（16M物理像素），TEM明场点分辨能力0.23 nm，晶格分辨能力0.10 nm，HAADF-STEM分辨能力0.19 nm； 2. STEM模式下可同时实现背散电子成像（BEI）和二次电子成像（SEI）； 3. EDS系统立体角范围1.7 sr，双探头，每探头有效感光面积100 mm2，能量分辨率133 eV； 4. 软件系统支持普通明场、STEM、EDS等模式下的三维重构数据采集与分析； 5. 液氮冷冻传输系统最低工作温度-170 ℃； 6. Gatan 914冷冻样品杆最大α倾转角±50°； 7. 高倾样品杆最大α倾转角±70°； 8. 普通样品杆最大α倾转角±35°。 |
基本用途 | 1. 常规工作模式：TEM-BF、TEM-DF、ED、HAADF-STEM、BEI、BSI、EDS； 2. 上述模式下图像数据的三维重构； 3. 液氮冷冻条件下的上述观测实验。 |
