| 仪器编号：964043300 | 购置日期：1996 |
| 放置地点：新实验楼六楼 602 | 管 理 人：刘站 |
| 仪器型号：ME-113 | 产 地：美国 |
功能特点：一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。操作规程：
一、开机
先启动电脑，再开控制器，然后开显示屏和灯。
二、下针
1、取下tipholder，注意不要碰断探针，放上样品。
2、调节摄像头使样品清晰，装上tipholder，拧紧后面螺母使tipholder固定。
3、调节摄像头，清晰地看到探针，记住探针位置。再调节摄像头，清晰地看到样品表面。
4、Down按钮下针，观察显示屏，慢慢看到探针轮廓，直到：吹教秸胄巫。
5、关灯，调节激光至针尖。
6、用悬臂调节sum值至最大（轻敲模式大于2.5，接触模式大于7），调节垂直信号至正负0.1之间（接触模式-1至-2），调节水平信号至正负0.1之间（接触模式调至0）。
7、轻敲模式，将左边开关打到前面（TM AFM模式）。
8、双击Nanoscope5.13软件，点击显微镜图标，打开界面，点击蓝色音叉图标，调谐，点auto tune自动调谐，点zero phase，再点back to image mode 回到拍图界面。
9、检查调节参数：Scan size=1μm；X offset:0 nm；Y offset:0 nm； can rate=1Hz。
10、点绿色箭头下针。
11、用Offset 调节所扫图形中间位置；zoom in 放大；Channel 1/2中的datascale调节图像的对比度。
12、若要换扫描位置，点红色向上箭头抬针3次以上，慢慢移动微调螺母至想要扫描的位置，重新检查sum值垂直水平参数，重新调谐，下针。
三、退针
点击红色向上箭头3次，再用UP退针。
四、关机
先关控制器、灯、显示屏，最后再关电脑。
